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PoE电源模块不输出?可能是MOS管故障,解决方法请拿走~

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发表于 2023-6-21 10:21:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 思睿达小妹妹 于 2023-6-21 10:23 编辑 " W5 p( }: h( u

( V4 d% ?' w' J1 K作者:屈工有话说
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" c" Q1 z& }% G7 n# MPoE(Power over Ethernet)是一种有线以太网供电技术,网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE交换机、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端产品。而TT9930是一款用于以太网供电系统(POE,power over Ethernet)的DC/DC控制器,采用原边控制模式,内置200V高压MOS,具有较高的系统效率。
9 N; i- K. d  ~9 N$ \2 [1 |2 a; l: \2 c5 U: C, X
工程师在使用TT9930样机时发现,样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,怀疑MOS故障,本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片:8 p& y! W/ T, Q4 H
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TT9930 样机图片

. y" j1 Q9 m' ]$ \) j1 i% n# X【应用】视频监控/无线AP/IP电话等' b! A3 _' [2 O" b, [# o" }0 a0 d
【规格】12V2A6 c  t& u: g" R: I6 `3 \8 H: G! y+ [1 R
【控制IC】TT9930
( B. W, C* y& u6 j0 W
6 G4 @+ b" C6 Q【问题描述】& |6 D$ G7 F- Q! t6 I/ f

0 e1 n8 q$ r  c* N" U样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,发现MOS管击穿且MOS管很烫,怀疑MOS烧坏,于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片:
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点温测试:测试重要元器件的温度,该测试的元器件分别有三个IC(主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA)、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯和变压器线圈。
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如上图为测试环境,该测试在尽量密闭环境中进行,不会有大量空气流入,从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。1 Z0 t* `% I* O$ V
5 Q$ ]& O, x% {8 @: t" c
【解决思路】
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0 ?8 Q! h2 M' ?# Z1、重新设计电源
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6 \6 R5 H4 ~; Q2 f" `8 a' ]3 l/ [. ?首先,分析导致温度过高的原因,对电源进行重新设计。可以采用更高效的散热解决方案,例如增加散热片表面积、改善风道设计等。
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2、更换元器件3 f3 C- \8 A0 g8 P, }  m( \# _
( v+ x, c. d9 k  W8 W6 W
应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件,同时可以适当增加元器件数量及规格。% {, c  c, A1 \! C" I( h  Z
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3、优化PCB布局
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合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰,降低损耗和温升,减少系统噪声,提高抗干扰性。7 W% B0 q! }  ]% p; x

9 P) d+ ^- @  c' [4、优化散热设计3 [  T' @# ?/ H  h/ F
' ~! N' d% _: v  N6 i" `
通过优化散热设计来降低温度,如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。* s$ Q; C' B% s* ~- K! H. v
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5、加强制造与测试管理
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加强制造工艺控制和良品率管理,确保产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试,在生产过程中对电源进行多次测试,及时发现不合格产品,以便及早调整。, q$ I! c) |, \$ y0 a
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【调通要点】) s- ~4 R% m- w8 S9 m
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如上图首先通过对各元器件进行点温,观察各元器件的温度变化,如图04号元器件为MOS管,点温才不到几分钟后,MOS的温度就达到了93.7度,而其它元器件温度较为正常,初步判定MOS管出现了问题。
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/ T9 G6 ~4 `' o: |如上图为再经过几分钟后的元器件温度(01-08为各元器件测试温度),继续观察。
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% F/ ~# Q9 g( }5 c$ Z如上图可以明显看到,虽然所有的元器件(01-08为各元器件测试温度)温度都在持续上升,但都没有特别大的异常,唯独MOS高达116的温度,可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。
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【最终结果】
* T) g9 [7 s! h& @# u9 @/ {' M/ L- [; ~; v2 |' \4 Z& i5 z
经过测试后发现,测试元器件的温度都在正常范围内,唯独MOS管的温度变化格外异常(01为输出电容、02为同步IC CR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线圈、09为环温),经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管,然后再进行老化及温度测试,样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片:
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: x7 A8 }7 T% g/ b0 b) N0 w, x
该图为样机老化6小时后的温度,各器件温度已经稳定,全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右,离击穿温度还有很大的余量,完全满足客户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善,则需要考虑是否为布局问题,可能要重新设计。, `' t, _! a7 o7 n
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