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PoE电源模块不输出?可能是MOS管故障,解决方法请拿走~

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发表于 2023-6-21 10:21:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 思睿达小妹妹 于 2023-6-21 10:23 编辑 1 F* c1 M7 d! ]- Y5 G8 K
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作者:屈工有话说8 z0 ]2 h' V  i+ w* r: q# a
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PoE(Power over Ethernet)是一种有线以太网供电技术,网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE交换机、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端产品。而TT9930是一款用于以太网供电系统(POE,power over Ethernet)的DC/DC控制器,采用原边控制模式,内置200V高压MOS,具有较高的系统效率。9 m/ u7 ]0 t9 k" t3 a
' z  T8 w+ m; P2 r( Y; n
工程师在使用TT9930样机时发现,样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,怀疑MOS故障,本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片:
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TT9930 样机图片

, m3 w3 i) m4 r4 n" T7 k# E【应用】视频监控/无线AP/IP电话等
; W/ o3 P6 I$ z- u4 d7 t# L- Z【规格】12V2A
8 h, F# X. u6 A5 G( o3 _# G4 a【控制IC】TT99304 C! L( L. Z3 j. q4 p+ H0 {
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【问题描述】
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; V6 C+ e( `* z. D* I样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,发现MOS管击穿且MOS管很烫,怀疑MOS烧坏,于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片:
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点温测试:测试重要元器件的温度,该测试的元器件分别有三个IC(主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA)、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯和变压器线圈。
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9 m* L+ \" [+ i- l7 i如上图为测试环境,该测试在尽量密闭环境中进行,不会有大量空气流入,从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。
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( B; i; j$ M# Q# `( m/ z2 t3 H* V【解决思路】# S6 G5 U7 C5 v0 u

) P* u2 r: g$ t$ h# H1、重新设计电源
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3 q( d8 N9 i5 a% T首先,分析导致温度过高的原因,对电源进行重新设计。可以采用更高效的散热解决方案,例如增加散热片表面积、改善风道设计等。
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2、更换元器件' N2 [" `! s" Y, B" I# o. H

# A9 d7 N5 y  p1 `7 {应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件,同时可以适当增加元器件数量及规格。; @$ _( Z9 V0 G0 o. H  G% d& K

* A: J+ |" S0 N/ |' N3、优化PCB布局
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$ h" m: d6 {5 h0 a/ l合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰,降低损耗和温升,减少系统噪声,提高抗干扰性。  Q% ^8 x/ R+ O+ E8 B! f& b3 P

* l" N) P2 C; b' c0 i% l! Z4、优化散热设计
! S2 T+ q& l; N3 Y1 E5 t8 c8 m7 t. {* l4 W
通过优化散热设计来降低温度,如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。
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+ Y  Q/ m8 P3 q5、加强制造与测试管理
. t2 ^2 L) n1 t/ I# y8 `
! D( }" W* |2 B5 ?, r  V' Z" w. t  f加强制造工艺控制和良品率管理,确保产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试,在生产过程中对电源进行多次测试,及时发现不合格产品,以便及早调整。
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【调通要点】- }7 Q% q; B; }- }% `) @1 g1 h
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如上图首先通过对各元器件进行点温,观察各元器件的温度变化,如图04号元器件为MOS管,点温才不到几分钟后,MOS的温度就达到了93.7度,而其它元器件温度较为正常,初步判定MOS管出现了问题。$ F! d+ a, _5 y! a$ N

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如上图为再经过几分钟后的元器件温度(01-08为各元器件测试温度),继续观察。
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' Z: L5 c6 ^0 p7 O' S
如上图可以明显看到,虽然所有的元器件(01-08为各元器件测试温度)温度都在持续上升,但都没有特别大的异常,唯独MOS高达116的温度,可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。
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【最终结果】
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经过测试后发现,测试元器件的温度都在正常范围内,唯独MOS管的温度变化格外异常(01为输出电容、02为同步IC CR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线圈、09为环温),经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管,然后再进行老化及温度测试,样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片:
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6 C9 l6 ~. t8 g' k2 @/ k" m

. t: V  U  [  |* n! T- f该图为样机老化6小时后的温度,各器件温度已经稳定,全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右,离击穿温度还有很大的余量,完全满足客户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善,则需要考虑是否为布局问题,可能要重新设计。2 f& o0 b1 q5 G) [" ~# V* R

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