中国安防论坛

 找回密码
 注册
查看: 11893|回复: 0

PoE电源模块不输出?可能是MOS管故障,解决方法请拿走~

[复制链接]

安防偶像

Rank: 7Rank: 7Rank: 7

积分
1715
发表于 2023-6-21 10:21:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 思睿达小妹妹 于 2023-6-21 10:23 编辑 $ W' t6 y  P3 T  l
2 M( r% r5 ^1 a# z( E7 Y9 E
作者:屈工有话说
, ?9 Z3 A  ^" A. k: J/ o' a4 R" O* E/ G5 r2 {" Q/ |
PoE(Power over Ethernet)是一种有线以太网供电技术,网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE交换机、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端产品。而TT9930是一款用于以太网供电系统(POE,power over Ethernet)的DC/DC控制器,采用原边控制模式,内置200V高压MOS,具有较高的系统效率。% a9 A. Y) D4 P: P0 D, d

$ t; B6 i/ c0 [- H$ y3 x工程师在使用TT9930样机时发现,样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,怀疑MOS故障,本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片:
2 X" }& u' t5 J7 q+ {$ S
' @9 i7 ~, |. n: J+ w/ }3 w
TT9930 样机图片

' q/ m  ]+ c# Y0 ?& T/ i4 h【应用】视频监控/无线AP/IP电话等, t1 m& j. o5 }. @
【规格】12V2A1 j- }5 p, H6 X% B9 t5 L: T% C
【控制IC】TT9930
  d' L* ?7 u$ `: I( h) P
8 w; Y( p, W7 X' V【问题描述】# |7 S* y' [' q
# H& U- ?) C, H5 X
样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,发现MOS管击穿且MOS管很烫,怀疑MOS烧坏,于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片:$ b$ R+ ~, R: ~& Y0 w' s+ L
& R- H% G9 A( h( H  t9 X
$ i' M7 `9 i( m
点温测试:测试重要元器件的温度,该测试的元器件分别有三个IC(主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA)、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯和变压器线圈。* U2 ~9 X7 p+ n, _5 I6 b
" j$ @% z: L# p) U) \" T# M# P, [

& x  m/ Y( G/ m0 h9 P, v如上图为测试环境,该测试在尽量密闭环境中进行,不会有大量空气流入,从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。
* K' p6 c$ B  d: a. K, Q0 ~6 T3 l4 A4 W; {  f
【解决思路】
) S  Y0 x" e* ~! g
6 A. I" N- w7 a8 d1、重新设计电源7 e, E0 N& e) @5 Z2 ?
; ^: ]* C. o% w6 Z. {& ~9 k: I
首先,分析导致温度过高的原因,对电源进行重新设计。可以采用更高效的散热解决方案,例如增加散热片表面积、改善风道设计等。2 F5 ^* \  l& c; [

% T& Y: V$ o1 q7 q2、更换元器件+ p0 _/ w! i! l* A& i

; f0 q/ T- b/ T) Y4 I应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件,同时可以适当增加元器件数量及规格。1 Y. y1 q+ u: ]7 @
+ S/ [8 H2 E" a* ^1 N% e; r6 m
3、优化PCB布局  O& {+ U! B( `9 Q

/ a3 D2 B3 j0 j2 p; c5 A合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰,降低损耗和温升,减少系统噪声,提高抗干扰性。
+ ^# F- s, ^9 D; f, m& z
& U8 [, S" l6 C" T% `7 h4、优化散热设计
# j, w4 f. Z& l4 K: I5 E" x% x/ Y; G4 T. N: a6 g+ M3 w
通过优化散热设计来降低温度,如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。
1 E6 I' q: I: Y4 n3 M5 h! c; Z  F% j* k# y5 ?' v2 R
5、加强制造与测试管理3 I* s, c' X/ F( V  a, N5 T0 \* W
3 u! E. P4 X) Q
加强制造工艺控制和良品率管理,确保产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试,在生产过程中对电源进行多次测试,及时发现不合格产品,以便及早调整。
9 {* p" k) D8 y' l9 j$ ^# r  M
- @# J& S2 G* E% I【调通要点】' p" Z; Z; |7 o7 ]# y/ i. u

4 O" n" O7 K, P+ G如上图首先通过对各元器件进行点温,观察各元器件的温度变化,如图04号元器件为MOS管,点温才不到几分钟后,MOS的温度就达到了93.7度,而其它元器件温度较为正常,初步判定MOS管出现了问题。3 r+ S% E( P$ ?2 H# d- Z  B
' _5 G) X! n2 z: R1 U

  y% |6 T4 L( z; Z* ~; Q8 P( j如上图为再经过几分钟后的元器件温度(01-08为各元器件测试温度),继续观察。$ i7 B- W0 L8 m9 l2 \
* T1 D- n1 y3 B/ Y+ J9 _
- N/ N9 z" L3 d; z/ a* C
如上图可以明显看到,虽然所有的元器件(01-08为各元器件测试温度)温度都在持续上升,但都没有特别大的异常,唯独MOS高达116的温度,可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。7 V' T9 w6 S, }5 u, X6 V7 B" k" g
* z& l5 p! V( O# l5 u0 ^
【最终结果】4 ]$ [, y" H- ^! s6 Q
6 i' d% X# W. B" w1 n
经过测试后发现,测试元器件的温度都在正常范围内,唯独MOS管的温度变化格外异常(01为输出电容、02为同步IC CR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线圈、09为环温),经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管,然后再进行老化及温度测试,样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片:" T! q. ?+ u& x5 y

$ O+ Q7 A; M7 y: H5 F8 g" @% d

- H, W$ z/ t' |: ~, ^& }6 D该图为样机老化6小时后的温度,各器件温度已经稳定,全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右,离击穿温度还有很大的余量,完全满足客户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善,则需要考虑是否为布局问题,可能要重新设计。4 R, ?+ P: M* }9 [" y' g
  m# z, D1 ?& f* _& P7 K

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
思睿达联系人:何工 18923426660,欢迎来电咨询,申请样品。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

安豆网|Archiver|手机版|中国安防论坛 ( 粤ICP备09063021号 )

GMT+8, 2026-7-13 05:51 , Processed in 0.113644 second(s), 21 queries .

Powered by Discuz! X3.4 Licensed

© 2001-2017 Comsenz Inc.

快速回复 返回顶部 返回列表