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本帖最后由 思睿达小妹妹 于 2023-6-21 10:23 编辑 * R N$ |3 r: G$ E4 e# {) S5 D) U
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作者:屈工有话说 h. e9 z X% R8 D1 p% ~
, i) M0 K3 J7 h8 ?: |PoE(Power over Ethernet)是一种有线以太网供电技术,网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE交换机、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端产品。而TT9930是一款用于以太网供电系统(POE,power over Ethernet)的DC/DC控制器,采用原边控制模式,内置200V高压MOS,具有较高的系统效率。
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工程师在使用TT9930样机时发现,样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,怀疑MOS故障,本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片:! k( l+ |3 O Y+ C- g" K3 G5 r1 k" i
- s5 h* R' z$ Y; x) k5 XTT9930 样机图片 / p# P( b1 {- P
【应用】视频监控/无线AP/IP电话等; n: m+ ]" c6 X
【规格】12V2A
7 k$ Z& R7 U1 ^1 a) D【控制IC】TT9930
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* _/ ^7 K x. o3 l/ t( W【问题描述】
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样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,发现MOS管击穿且MOS管很烫,怀疑MOS烧坏,于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片:8 T. V4 ^3 G$ `
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' G8 L5 I- f/ D1 g( x. s* w点温测试:测试重要元器件的温度,该测试的元器件分别有三个IC(主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA)、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯和变压器线圈。
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1 d' H+ R. l, K9 X如上图为测试环境,该测试在尽量密闭环境中进行,不会有大量空气流入,从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。
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1 N1 L8 i+ ?- M4 ~( d$ ~【解决思路】5 i+ W4 w. I ]6 W# [1 s$ u$ H
6 ]( W+ s1 K6 m1、重新设计电源/ Z) I! z! V+ I$ v( g3 ~
3 `1 k- W& x" |8 ~! f首先,分析导致温度过高的原因,对电源进行重新设计。可以采用更高效的散热解决方案,例如增加散热片表面积、改善风道设计等。% B+ J6 O7 P: Q# b* o& ^9 r- ^
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2、更换元器件# S5 ] K0 L9 M @% K# s( k
( x' P3 M; V( C6 N9 G4 Y应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件,同时可以适当增加元器件数量及规格。
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7 w4 T. r( g0 n" S: \/ P3、优化PCB布局( @7 y0 f* K; j2 w" G8 |+ X* |' k
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合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰,降低损耗和温升,减少系统噪声,提高抗干扰性。: {4 q: l3 C! w6 s! `3 ^8 [! q
# v1 }) t6 O) s* ?7 }* c4、优化散热设计9 C9 ~0 F: I- Y
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通过优化散热设计来降低温度,如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。+ u1 {2 Y1 B* j+ ?$ ~' E
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5、加强制造与测试管理( Y2 e: a/ P! F. Y7 p! c5 h
0 c, A1 p* I! {; v% H6 P8 |加强制造工艺控制和良品率管理,确保产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试,在生产过程中对电源进行多次测试,及时发现不合格产品,以便及早调整。
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' t6 H9 k/ m. Z9 P【调通要点】4 \( q; M$ d# |" W
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如上图首先通过对各元器件进行点温,观察各元器件的温度变化,如图04号元器件为MOS管,点温才不到几分钟后,MOS的温度就达到了93.7度,而其它元器件温度较为正常,初步判定MOS管出现了问题。
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& j2 N' `2 R P4 C. d如上图为再经过几分钟后的元器件温度(01-08为各元器件测试温度),继续观察。" @1 c1 e+ W' j! a3 ^6 v
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5 l# q9 w- ?- F; R如上图可以明显看到,虽然所有的元器件(01-08为各元器件测试温度)温度都在持续上升,但都没有特别大的异常,唯独MOS高达116的温度,可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。1 s+ ?. c% _" a2 ]' t2 w
" |+ a% v. [/ V7 v" U【最终结果】) P' v1 ?2 O& `0 x7 J
. N0 Q% V6 `- Q) ^% N- Z7 c2 v经过测试后发现,测试元器件的温度都在正常范围内,唯独MOS管的温度变化格外异常(01为输出电容、02为同步IC CR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线圈、09为环温),经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管,然后再进行老化及温度测试,样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片: h8 p- } y% Z* I
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该图为样机老化6小时后的温度,各器件温度已经稳定,全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右,离击穿温度还有很大的余量,完全满足客户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善,则需要考虑是否为布局问题,可能要重新设计。
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