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PoE电源模块不输出?可能是MOS管故障,解决方法请拿走~

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发表于 2023-6-21 10:21:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 思睿达小妹妹 于 2023-6-21 10:23 编辑 / \0 w9 [, Q6 g1 _+ G
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作者:屈工有话说: }* p7 w1 X2 g' N: |- A
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PoE(Power over Ethernet)是一种有线以太网供电技术,网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE交换机、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端产品。而TT9930是一款用于以太网供电系统(POE,power over Ethernet)的DC/DC控制器,采用原边控制模式,内置200V高压MOS,具有较高的系统效率。
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工程师在使用TT9930样机时发现,样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,怀疑MOS故障,本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片:
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TT9930 样机图片

" Y8 y8 W: y% z/ m+ Q0 [" E9 ^【应用】视频监控/无线AP/IP电话等
- y! Z6 ~; R% k% `0 [' m+ q【规格】12V2A
# g  T7 B3 c0 l0 i+ `【控制IC】TT99305 C9 m8 n) ]8 |
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【问题描述】
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  I3 c+ p5 m# ^0 [3 u" [, Y4 b样机正常老化时,突然没有输出。经过排查后,发现MOS管击穿且MOS管很烫,怀疑MOS烧坏,于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片:
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+ |+ ~, T3 {! ^2 j点温测试:测试重要元器件的温度,该测试的元器件分别有三个IC(主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA)、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯和变压器线圈。$ E# Y+ b9 d: G# b$ ?

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/ d( s5 s; j% E& i如上图为测试环境,该测试在尽量密闭环境中进行,不会有大量空气流入,从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。( q9 Y( m; g' g* J

0 e9 U' I2 J: M4 v% p8 I0 g【解决思路】; k) g) }* R; b  L- s. y
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1、重新设计电源% I6 X( s* P0 a0 \; N

  q* O7 h& \3 F- f6 v首先,分析导致温度过高的原因,对电源进行重新设计。可以采用更高效的散热解决方案,例如增加散热片表面积、改善风道设计等。$ r6 v+ o/ Z  x' Z$ S" T$ c2 H
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2、更换元器件6 R8 T. h5 [6 L! ?$ ?
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应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件,同时可以适当增加元器件数量及规格。
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1 p4 F5 _( f. m) s4 v2 H( D8 U3、优化PCB布局/ H/ _! j) V+ _3 d5 Y" A$ _" ~

4 W8 o6 o; y7 k8 R" h合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰,降低损耗和温升,减少系统噪声,提高抗干扰性。
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1 t  G  f" t/ \* V9 j4、优化散热设计
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2 ?' i. b% D) r. e通过优化散热设计来降低温度,如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。
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5、加强制造与测试管理
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加强制造工艺控制和良品率管理,确保产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试,在生产过程中对电源进行多次测试,及时发现不合格产品,以便及早调整。, }- @! l: L7 h4 K3 }2 T
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【调通要点】1 ]1 g: `' O; b* u+ r; n

1 n/ Y+ y* k5 H3 N0 l1 G1 d如上图首先通过对各元器件进行点温,观察各元器件的温度变化,如图04号元器件为MOS管,点温才不到几分钟后,MOS的温度就达到了93.7度,而其它元器件温度较为正常,初步判定MOS管出现了问题。
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& K; m( R0 U# L6 K0 G( E" s/ i" E9 O如上图为再经过几分钟后的元器件温度(01-08为各元器件测试温度),继续观察。
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* s+ Y% Z2 t1 p: ?& q- q# M8 U如上图可以明显看到,虽然所有的元器件(01-08为各元器件测试温度)温度都在持续上升,但都没有特别大的异常,唯独MOS高达116的温度,可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。
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【最终结果】5 \9 B1 w9 h4 Y2 u

$ a7 ~& H: ]. u经过测试后发现,测试元器件的温度都在正常范围内,唯独MOS管的温度变化格外异常(01为输出电容、02为同步IC CR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线圈、09为环温),经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管,然后再进行老化及温度测试,样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片:
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该图为样机老化6小时后的温度,各器件温度已经稳定,全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右,离击穿温度还有很大的余量,完全满足客户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善,则需要考虑是否为布局问题,可能要重新设计。1 s! _  f% _& {! X* K: n( r
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