实现高性能、高性价比的电源适配器设计，从电源IC入手！

思睿达小妹妹

( w3 B1 L+ {6 I0 [) P# z5 @# X+ D
# A! m" ^3 b& S( H在上一篇文章中，我们介绍了思睿达TT9932 一体板方案。

6 G! Q3 n4 r( E: c/ p6 R接下来，我们给大家介绍“基于思睿达主推的CR5243_5V1.2A 无Y电容 电源适配器设计参考”，希望对工程师们有所帮助！
6 _$ l0 U5 D( a8 {( |+ K
; b; R+ y* m% p7 F3 Z7 j' u01、电路参考设计

/ \3 \5 M; R1 j( Y1.1、参考原理图及PCB：
2 b3 z4 X+ {( @: s( w/ N. Y8 T; ?
/ w5 w! {* l# p7 K! w! u, z6 k

3 ]) p" O. L( Z9 ?

2 r. ?, f% ]. g  i% S关于CR5243
2 E* [( t+ n2 p6 {' I& }# }
' G; l" v) W+ a+ q8 [& xCR5243是一款高性能的电流控制型PWM开关，全电压范围内待机功耗小于75mW，满足能效六标准。为了减少待机功耗和提升效率，CR5243集成了多种工作模式。随着负载的变化，CR5243可以工作在三种不同的模式，并且每种模式都做了优化。当负载很重时，系统工作在传统的PWM（脉冲宽度调制）模式。当负载变轻时，系统进入PFM（脉冲频率调制）模式。在PFM模式下，随着负载的逐渐变轻，开关频率也逐渐的减小。CR5243中独有的频率变换模块可以使开关频率平滑降低而不产生噪声。由于频率的降低，开关损耗也被有效的减小了。当负载继续降低而低于某一设定值时，系统进入PSM（跳频调制）模式。在PSM模式下，一些开关周期被跳过，这些周期内开关管完全关断，因此这种模式可进一步降低待机功耗。在上述的三种工作模式下，都集成了频率抖动功能，来提升系统的EMI特性。
6 V; v6 g& ?5 ^" c1 s
1 U$ @1 H! l+ `/ x芯片还集成了最大输出功率动态补偿模块，从而保证系统在全电压交流输入范围（90V~264V）内最大输出功率点恒定。

CR5243集成了多种功能和保护特性，包括欠压锁定（UVLO），VDD过压保护（OVP），软启动，过温保护（OTP），逐周期电流限制（OCP），过载保护（OLP），SENSE引脚悬空保护，GATE端箝位，前沿消隐等。
; f& O2 u# Q4 V3 t& `
6 y8 L) r* h+ S主要特点

● 全电压范围待机低于75mW
● 满足能效六级标准
6 F5 z- `+ m  q$ i2 q' S1 j8 v● PSM模式降低待机功耗
7 c' {1 {& t) I9 R  ^4 L, C; x● 内置软启动
% o: v6 n3 M: w& @# r4 g● 良好的EMI特性
4 M* v- ?6 L. d4 S% e$ N, j● 零噪声工作
/ m! u- E( C! {% `9 I● 典型65kHz开关频率
● 电流模式控制
) B* d5 D; @7 g5 j0 E5 m4 Z● 内置斜坡补偿
! D5 [0 o7 j+ w● 内置前沿消隐
: ?" q3 u0 f" X+ w" F, r' e. F● 启动电流和工作电流低
& E- z5 D) |, M● VDD端过压保护
● 过载保护
● 逐周期过流保护
' w6 o( q: W' V# h( l4 l/ `● 过温保护
$ M% H4 |$ @) _: W6 d, C● 输出整流二极管短路保护
● 磁芯饱和保护
; j9 N3 j( @. f● DIP-8L、SOP-8L绿色封装

/ X: H( q7 R. D) ~基本应用

● 电源适配器
● 开放式电源
● 数码相机和摄像机电源
# e: J, `8 Z/ w4 F5 r● 电脑和服务器辅助电源
● 机顶盒电源
● 掌上电脑电源

引脚分布
8 Y& u8 W, Z* r: U+ K- _" ~

引脚描述

典型应用
5 s, k) F/ U8 J5 O( T

1.2、推荐参数：

2 K5 p2 R- ?; L1.3、变压器参考设计：

5 k, O1 M1 h+ I. d02、性能测试
/ P# S9 ]6 p2 x# U- d$ {
注：以下测试中，被测试电源均处于开放式；环境温度：25℃。
7 F- ]: p: B& a. T; X/ \
( m1 {$ `7 x& t/ I8 k( j7 H2.1、样机效率测试@PCB END：

2.2、待机功耗测试：
, M1 O  V1 C1 }+ b: m

& v$ H9 S2 t; k" U) n% d2.3、过载及短路测试：
8 _. h- l& b/ V  }4 e/ u

2.4、老化测试：
9 V; d+ C) r$ O+ I( ]8 \, J+ o

2.5、EMI 摸底测试@5V1.2A：
* H8 d! Z) I2 T9 f5 B8 p2 x0 t, H

8 A- b! f* [4 R, s8 f3 Q

CE_L@AC230V/50Hz

- @6 w8 x8 R3 O& }* X* b

CE_N@AC230V/50Hz

1 s! |' g* D  N2 {( [0 |) o

  E; s( s( t* N! X: n8 S7 b% ?/ n* `

RE_@AC230V/50Hz